AIJU ha incorporado un Microscopio Electrónico de Barrido de sobremesa, también conocido como SEM (Scanning Electron Microscope), para reforzar sus capacidades de caracterización de materiales en proyectos de I+D+i. Este equipo, financiado por el IVACE dentro de la línea GVA, permite obtener imágenes de alta resolución de la superficie y microestructura de los materiales, mostrando […]
Un nuevo microscopio electrónico ofrece a las empresas nuevas herramientas para el análisis de materiales